Критические ошибки на iPhone 5s появляются в 2 раза чаще, чем на iPhone 5с и на iPhone 5. Еще и появился «синий экран смерти» [видео]

Издание AllThingsD опубликовала результаты исследований, проведенных Crittercism, согласно которым мы видим, что приложения на новом флагмане Apple сбоят с вероятностью 2%. Для сравнения приведем бюджетную модель iPhone 5c и прошлогоднюю iPhone 5, процент критических ошибок которых составляет менее 1%. Последние имеют 32-разрядный процессор.

Представитель Crittercism предполагает, что сбои случаются чаще на iPhone 5s, так как разработчики не в состоянии проверить совместимость своих приложений с последними версиями iPhone и новым 64-битным A7 процессором.
Отметим, что компания Apple предоставляла разработчикам испытывать новую операционную систему iOS 7 на 32-разрядных чипах, выпуская предварительные бета-версии для разработчиков.

В защиту купертиновской компании издание заявляет, что, несмотря на некоторые проблемы и ошибки, компания Apple по-прежнему делает хорошую работу по переходу на новую 64-битную версию своей мобильной операционной системы. Такие проблемы неизбежны при выпуске нового аппаратного и программного обеспечения.

Владельцы новых гаджетов Apple сравнили такие критические ошибки с «синим экраном смерти» операционной системы Windows. На видео ниже вы сможете увидеть почему появилось такое сравнение. Эксперты предполагают, что синий экран смерти на iPhone может возникать из-за многозадачности операционной системы iOS 7.

Apple уже выпустила два небольших обновления для iOS 7, устраняя с помощью них небольшие ошибки. Первое обновление было доступно только для новых iPhone 5s и iPhone 5c, в то время как iOS 7.0.2 вышло в конце сентября и исправляло ошибки для всех гаджетов.

Компания пообещала в ближайшее время выпустить очередное обновление iOS 7 для решения проблем, связанных со службой iMessage и другими недостатками. Будем надеяться, что следующее обновление исправит и проблемы с запуском приложений. Так как не очень бы хотелось видеть синий экран смерти и на iOS.